К. Исмаилов, Е. Косбергенов, и М. Жалелов, «ДЕГРАДАЦИОННЫЕ ПРОЦЕССЫ ПОСЛЕ СВЧ ОТЖИГА В ДИОДНЫХ СТРУКТУРАХ С БАРЬЕРОМ ШОТТКИ Au–TiBx–SiC 6H», SS, вып. 3, сс. 10–12, июл. 2019, просмотрено: авг. 07, 2026. доступно на: https://journal.ndpi.uz/ss/article/view/2019-3-005