Исмаилов, К., Косбергенов, Е. и Жалелов, М. (2019) «ДЕГРАДАЦИОННЫЕ ПРОЦЕССЫ ПОСЛЕ СВЧ ОТЖИГА В ДИОДНЫХ СТРУКТУРАХ С БАРЬЕРОМ ШОТТКИ Au–TiBx–SiC 6H», НАУКА и ОБЩЕСТВО, (3), сс. 10–12. доступно на: https://journal.ndpi.uz/ss/article/view/2019-3-005 (просмотрено: 9 август 2026).