Исмаилов, К., Косбергенов, Е., & Жалелов, М. (2019). ДЕГРАДАЦИОННЫЕ ПРОЦЕССЫ ПОСЛЕ СВЧ ОТЖИГА В ДИОДНЫХ СТРУКТУРАХ С БАРЬЕРОМ ШОТТКИ Au–TiBx–SiC 6H. НАУКА и ОБЩЕСТВО, 3, 10-12. https://journal.ndpi.uz/ss/article/view/2019-3-005