Исмаилов К, Косбергенов Е, Жалелов М. ДЕГРАДАЦИОННЫЕ ПРОЦЕССЫ ПОСЛЕ СВЧ ОТЖИГА В ДИОДНЫХ СТРУКТУРАХ С БАРЬЕРОМ ШОТТКИ Au–TiBx–SiC 6H. SS. 2019;(3):10-12. просмотрено август 8, 2026. https://journal.ndpi.uz/ss/article/view/2019-3-005