Исмаилов, К., Косбергенов, Е. and Жалелов, М. (2019) “ДЕГРАДАЦИОННЫЕ ПРОЦЕССЫ ПОСЛЕ СВЧ ОТЖИГА В ДИОДНЫХ СТРУКТУРАХ С БАРЬЕРОМ ШОТТКИ Au–TiBx–SiC 6H”, ILIM hám JÁMIYET, (3), pp. 10–12. Available at: https://journal.ndpi.uz/ss/article/view/2019-3-005 (Accessed: 9 August 2026).